繰り返しの組立テスト
衝撃疲労試験または曲げ疲労試験を開始する前に、分離可能な MAF アセンブリを 1 回分解して再組み立てしてください。
各アセンブリは、再組み立てする前にシール面を手で 60 ～ 90 度回転させる必要があります。各アセンブリは、メーカーの組み立て手順で推奨される最小値と最大値の範囲内で締め直してください。
衝撃疲労試験と曲げ疲労試験の試験サイクルの 25 % が終了したら、試験を中断し、試験片の分解と再組み立てをさらに 2 回繰り返します。
衝撃疲労試験と曲げ疲労試験の試験サイクルの 50 % が終了したら、試験を中断し、試験片の分解と再組み立てをさらに 2 回繰り返します。
衝撃疲労試験および曲げ疲労試験の試験サイクルの 75 % が終了したら、試験を中断し、試験片の分解と再組み立てをさらに 2 回繰り返します。
衝撃および曲げ疲労試験の終了時 (事後試験前)、試験片の分解と再組み立てをさらに 2 回行います。
衝撃疲労および曲げ疲労に関するポストテスト要件を満たした後、試験片に漏れの証拠が見られない場合、試験片は繰り返し組み立てテストに合格したことになります。{0}
試験中に試験片が漏れた場合は、試験を中止してください。影響を受けた標本はテストに不合格でした。テストを中止した理由をテストレポートに記載してください。
